이 웹 세미나에서는 재구성 가능한 테스트 설정을 사용하여 아날로그 및 혼합 신호 장치 테스트를위한 효율적이고 정확하며 확장 가능한 기술을 탐색 할 것입니다. 반도체 장치가 더욱 복잡해지면 엔지니어는 성능을 검증하고 일정에 따라 가장자리 케이스를 잡는 데 어려움을 겪습니다. 테스트 설정에는 종종 고유 자동화 및 구성 고려 사항이있는 다른 공급 업체의 오실로스코프, 파형 생성기, 네트워크 분석기 등이 포함됩니다. 반도체 검증 요구 사항에 맞게 보조를 맞추기 위해 유연성 및 성능을 위해 설계된 다 채널 테스트 설정은 엔지니어를 효과적으로 확장하는 데 도움이 될 수 있습니다.